中圖儀器SEM掃描電鏡用于對樣品進行微觀尺度形貌觀測和分析。標配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統(tǒng)，能滿足用戶對多類型樣品的觀測需求，實現(xiàn)微觀的形貌和元素分析等。

核心優(yōu)勢

1、緊湊靈活，突破空間限制

（1）臺式設(shè)計，體積小巧，輕松擺放在桌面或狹小空間（如手套箱、移動實驗室），節(jié)省實驗室空間。

（2）支持快速移機，一臺設(shè)備滿足多場景需求，助力科研效率提升。

2、高性能，納米級分辨率

（1）空間分辨率優(yōu)于4nm（SE），支持高達200,000倍放大，精準捕捉納米材料、微流控芯片等樣品的微觀形貌。

（2）高襯度成像系統(tǒng)，快速掃描也能清晰呈現(xiàn)微弱信號，滿足材料科學、生命科學等領(lǐng)域的需求。

3、抗振防磁，穩(wěn)定無懼挑戰(zhàn)

（1）特殊隔振設(shè)計（CEM3000B搭載復(fù)合抗振系統(tǒng)），消除環(huán)境振動與電磁干擾，保障高倍成像質(zhì)量。

（2）適用于工業(yè)車間、車載實驗室等復(fù)雜環(huán)境，穩(wěn)定可靠。

4、高效便捷，一鍵智能操作

（1）快速抽放氣技術(shù)：低真空模式僅需40秒（CEM3000B），高真空模式最快1.5分鐘，大幅縮短等待時間。

（2）自動對焦、消像散、圖像增強功能，一鍵生成高質(zhì)量圖片，降低操作門檻。

5、靈活拓展，滿足多樣需求

（1）可選配低真空系統(tǒng)（5~100Pa），兼容導電/非導電樣品觀測。

（2）CEM3000系列桌面式掃描電子顯微鏡支持二次電子、背散射電子探頭及能譜儀，搭配顆粒統(tǒng)計、孔隙率測量等定制功能，滿足多領(lǐng)域分析需求。

中圖儀器SEM掃描電鏡憑借其簡便的操作系統(tǒng)，讓復(fù)雜的掃描電鏡使用過程變得簡單快捷。樣品一鍵裝入，自動導航和一鍵出圖能力（自動聚焦+自動消像散+自動亮度對比度）幫助用戶在短短幾十秒內(nèi)就可獲取高清圖像，大大提升了使用效率。

產(chǎn)品型號

CEM3000系列共涵蓋CEM3000A（大樣品倉型）和CEM3000B（抗振型）兩款強化機型，CEM3000A在不改變整機外觀尺寸的情況下，拓展了樣品倉尺寸，從而可對大尺寸樣品或多個常規(guī)尺寸樣品進行分析。同時，用戶也可選擇加裝有減振倉的CEM3000B，確保在縮短抽放氣時間的同時，消除環(huán)境振動對電鏡的影響，保證了高倍數(shù)成像時的圖像質(zhì)量。

產(chǎn)品功能

1.高分辨率，滿足用戶觀測需求；

2.快速抽放氣，縮短等待時間；

3.高易用性

可快速成像，一鍵成片；

4.多種成像參數(shù)

滿足專業(yè)用戶的調(diào)節(jié)需求；

5.高抗振防磁性能

強抗干擾能力；

6.可選配低真空模式，保證用戶能夠根據(jù)需要設(shè)定電鏡樣品倉內(nèi)真空度，進而對不同類型的樣品進行觀測。

7.大樣品倉

SEM3000A在保證較小外形尺寸同時，具有比肩立式電鏡的大倉室，從而容納更大尺寸樣品；

8.多探測器

可實現(xiàn)四分窗同時掃描成像。

應(yīng)用場景

材料科學：納米材料（如60nm銀線）、高熵合金粉末、氧化鋅等微觀結(jié)構(gòu)分析。

新能源：太陽能電池板缺陷檢測、涂層性能評估。

生物醫(yī)療：微流控芯片表面形貌觀測、藥物載體研究。

工業(yè)質(zhì)檢：錫球顆粒焊接質(zhì)量、精密器件表面粗糙度檢測。

部分技術(shù)指標

如有疑問或需要更多詳細信息，請隨時聯(lián)系中圖儀器咨詢。